1、 何謂耐壓測(cè)試?
耐壓測(cè)試是zui常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之一，常見(jiàn)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí)，對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以一高壓，測(cè)試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。
2 、在安規(guī)中絕緣有幾種類(lèi)型?
絕緣類(lèi)型分為四種：基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強(qiáng)絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹姡虼艘岔氁阅蛪簻y(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計(jì)是否有沿面距離或絕緣不足等問(wèn)題。
3 、在AC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要real current 的判斷？
AC輸出總電流(total current)可能因部份內(nèi)部容抗而造成與真實(shí)測(cè)試電流(real current)之間的差異。電流在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應(yīng)電流(reactive)會(huì)較大，而使得真實(shí)測(cè)試電流相對(duì)變小。若無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量輸出電流與加以補(bǔ)償，會(huì)造成測(cè)試上的盲點(diǎn)。
4 、在DC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩升時(shí)間？
DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間，因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定，需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖，才不會(huì)因充電電流而導(dǎo)致漏電流過(guò)高，進(jìn)而判斷為不良品(FAIL)。
5 、在做耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩降時(shí)間？
耐壓測(cè)試會(huì)使DUT充電，因此在耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí)須一段時(shí)間來(lái)進(jìn)行放電，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)將放電時(shí)間減至zui少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會(huì)明顯標(biāo)示危險(xiǎn)警告，以防止測(cè)試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。
6 、何謂flashover 電氣閃絡(luò)(ARC)?
安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)中明顯指出不得有絕緣破壞(Breakdown)發(fā)生，而部份安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)更要求不得有電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC發(fā)生，但并無(wú)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。ARC是屬於電氣放電的一種，當(dāng)ARC發(fā)生時(shí)已表示絕緣能力已不足，若多次的ARC發(fā)生，則會(huì)導(dǎo)致絕緣破壞。
7 、為何需要做電壓補(bǔ)償?
在耐壓測(cè)試中，測(cè)試電壓的標(biāo)準(zhǔn)是判斷良品的主要因素之一。許多耐壓測(cè)試設(shè)備以變壓器將低電壓轉(zhuǎn)換為高電壓後輸出，但儀器的內(nèi)部阻抗會(huì)造成分壓，尤其在一些品質(zhì)不良的耐壓測(cè)試設(shè)備中，實(shí)際輸出電壓無(wú)法達(dá)到安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。為避免失誤判定為良品而造成不必要的困擾，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)以自動(dòng)增益補(bǔ)償(Auto Gain Compensation)修正與補(bǔ)償電壓至所須電壓值，并將電壓表設(shè)計(jì)於輸出端，以便正確量測(cè)輸出電壓是否不足。
8 、何謂接地阻抗測(cè)試?
接地保護(hù)有二種測(cè)試方法：接地連續(xù)測(cè)試(Ground Continuity test, GC)及接地連接測(cè)試(Ground Bond test, GB)。接地保護(hù)測(cè)試的目的在於不讓使用者在不當(dāng)電流產(chǎn)生時(shí)，電流會(huì)流向大地，接觸機(jī)體則不會(huì)導(dǎo)致電氣危害。
9 、何謂絕緣電阻測(cè)試?
絕緣阻抗測(cè)試和直流耐壓測(cè)試是非常相似的，於相關(guān)連的兩點(diǎn)施以直流電壓(50~1000V)，可判定良品及不良品。絕緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測(cè)絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測(cè)試再進(jìn)行耐壓測(cè)試，而絕緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí)，往往耐壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。
10、 何謂漏電流?
當(dāng)電流經(jīng)過(guò)絕緣阻抗後溢出，稱(chēng)之為漏電流(Leakage current)，當(dāng)漏電流經(jīng)由人體接觸，使電流經(jīng)過(guò)人體後流向Earth，即造成電氣傷害。漏電流測(cè)試與耐壓測(cè)試、接地保護(hù)測(cè)試的不同處，在於設(shè)備是在運(yùn)作狀態(tài)下做測(cè)試。漏電流測(cè)試中會(huì)加上一個(gè)人體模擬阻抗電路，可模擬在真實(shí)情況下漏電流經(jīng)過(guò)人體的大小。
