泰克數字分析儀采樣示波器DSA8300

泰克數字分析儀采樣示波器DSA8300

DSA8300 是一款良好的等效時間采樣示波器，為通信信號分析、串行數據網絡分析以及串行數據鏈路分析應用提供zui高的保真測量和分析功能。

泰克數字分析儀采樣示波器DSA8300關鍵性能指標

• 超低時基抖動：
  • 在同時采集的zui多 8 條通道上，典型值為 425 fs
  • 使用 82A04B 相位參考模塊時，在zui多 6 條通道上 <100 fs
• *的垂直分辨率 – 16 位模數轉換器
• 電接口分辨率： <20 μV LSB（適用于 1 V 全量程）
• 光接口分辨率從 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
• >80 GHz 的光接口帶寬
• 電接口帶寬 >70 GHz
• 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能
• 80 多種行業標準模板，自動進行模板測試

主要功能

• 通過當前采樣模塊系列，DSA8300 支持同時采集zui多 8 個信號
• 多種光接口、電接口和附件模塊，滿足您的特定測試要求
• 光接口模塊
  • 全面集成光接口模塊，支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有標準光接口數據速率
  • 經過認證的光接口參考接收機，支持標準規定必須進行的*性測試的要求
  • >80 GHz 的光接口帶寬
  • 光接口采樣模塊提供了高光學靈敏度、低噪聲及寬動態范圍，可以準確地測試和檢定短程到遠程光接口通信標準
  • 經過全面校準的時鐘恢復解決方案 – 不需要手動校準數據撿拾損耗
  • 經過校準的消光比測量，在采用這一出廠校準選項模塊時，系統間消光比測量可靠性 <0.5 dB
• 電接口模塊
  • 超低噪聲電接口采樣器（20 Ghz 時為 280 μV，60 Ghz 時為 450 μV，典型值）
  • 可以選擇帶寬1允許用戶用采樣器帶寬和噪聲換取*的數據采集性能
  • 遠程采樣器2或緊湊的采樣擴展模塊電纜，采樣器可以放在被測器件附近，使信號劣化達到zui小
  • 世界上性能zui高的集成 TDR（10 ps 典型階躍上升時間），高效檢定阻抗不連續點，高動態范圍，執行高達 50 Ghz 的 S 參數測量
• 分析
  • 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了一套完整的超過 120 種自動測量功能
  • 80 多種行業標準模板，自動進行模板測試。 新模板可以導入到 DSA8300 中，支持新出現的標準。 此外，用戶可以為自動模板測試定義自己的模板
  • 垂直直方圖和水平直方圖，對波形進行統計分析
  • 垂直光標、水平光標和波形光標(帶測量數據)
  • 通過 80SJNB 基本和高級應用軟件選項提供抖動、噪聲、BER 和串行數據鏈路分析
  • 通過 IConnect® 應用軟件選項提供高級 TDR 分析、S 參數測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能
• 高測試吞吐量
  • 每條通道高達 300 kS/s 的采樣采集速率
  • 高效編程接口（IEEE-488、以太網或本地處理器接入）實現高測試吞吐量

1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模塊。

2 僅適用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

應用

• 設計/檢驗電信和數據通信器件和系統
• ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/*性測試
• 高性能真正差分 TDR 測量
• 串行數據應用阻抗檢定和網絡分析，包括 S 參數
• 高級抖動、噪聲和 BER 分析
• 通道和眼圖仿真及基于測量的 SPICE 模型

杰出的性能，優異的通用性

DSA8300 數字串行分析儀為開發和測試采用幾千兆位數據傳輸技術的通信、計算機和消費電子提供了用途zui廣泛的工具。 它可以用來對這些產品中使用的器件、模塊和系統的光接口和電接口發射機進行檢定及*性測試檢驗。

此外，DSA8300 特別適合電接口信號路徑檢定，包括封裝、PCB 或電纜。 由于杰出的帶寬、信號保真度及可擴展性zui強的模塊化模塊，DSA8300 為當前和新興串行數據技術提供了zui高性能的 TDR 和互連分析能力、zui準確的信號損傷分析能力以及 BER 計算功能。

光接口眼圖測試

無源互連測試

zui后，由于杰出的信號保真度和分辨率，對要求超高帶寬、超精細垂直分辨率、低抖動和/或杰出時間間隔精度的電接口和光接口應用，DSA8300 提供了黃金標準。

DSA8300 擁有*的測量系統保真度及zui低的基本儀器抖動本底（對 >1.25 Gb/s 的串行數據信號，典型值為 425 fs RMS），保證zui準確地同時采集zui多 8 個高帶寬信號。 使用相位參考模塊 (82A04B) 時采集抖動可低至 100 fs RMS，使分析效果更佳。

多處理器結構及每插槽數字信號處理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率，縮短了進行可靠的檢定和*性測試所需的測試時間。

DSA8300 的通用模塊化結構支持大量的且不斷增加的插件，您可以為測量系統配置各種您當前應用和未來應用的電接口模塊、光接口模塊和附件模塊。 DSA8300 提供了 6 個模塊插槽，可以同時容納一個時鐘恢復模塊、一個精密相位參考模塊和多個電接口或光接口采集模塊，可以讓系統性能與不斷演變的需求相適應。 由于能夠在不斷電的情況下插拔采樣模塊，DSA8300（適用于固件版本為 6.1 及以上的示波器）可以根據測試需求變化，更加靈活地配置 DSA8300。

該電接口模塊系列擁有業內的信號保真度，包括 20 GHz 到 >70 GHz 的帶寬性能，光接口模塊支持從 125 Mb/s 到 100 Gb/s 以上的光接口測試，提供了超過 80 GHz 的光接口帶寬。 DSA8300 支持所有傳統的 8000 系列電接口和光接口采樣模塊和附件。1

此外，模塊配套功能，如單端和差分電學時鐘恢復、電接口采樣器靜電保護及連接流行的 TekConnect® 探測系統，在高阻抗探測和差分探測中提供了*的泰克探頭性能。 另外，還提供用于 50 Ω 探測和 TDR 探測的低阻抗探頭。

DSA8300 及相關應用軟件*的測量和分析功能進一步增強了 DSA8300 及其采樣模塊和附件的原始采集性能。 例如，IConnect® 應用軟件為無源電接口互連（封裝、印刷電路板、背板、電纜等）提供了完整的 TDR、S 參數和信號完整性分析，80SJNB 應用軟件則為光接口和電接口串行數據鏈路提供了完整的抖動、噪聲和誤碼率分析及通道和均衡分析和仿真功能。

1 DSA8300 不支持 80A06 碼型同步模塊，這一功能已經被 DSA8300 集成高級觸發選項（選項 ADVTRIG）所代替。

抖動、噪聲、BER 和串行數據鏈路分析

抖動、噪聲和 BER 分析

三種軟件解決方案支持高速串行數據鏈路測量和分析：80SJARB、80SJNB Essentials 和 80SJNB Advanced。1

• 80SJARB（選項 JARB）是一種基本抖動測量工具，能夠測量任何波形（隨機波形或重復性波形）上的抖動。其采集簡單，限制了可能進行的分析數量，因此只能使用zui簡單的分解功能，其可重復性與碼型相關。
• 80SJNB Essentials（選項 JNB）可以全面分析抖動、噪聲和 BER，支持成分分解，可以清楚地了解信號的問題和余量。這種采集方式要求重復性碼型。與 80SJARB 相比，其精度和可重復性都得到改進，因為該工具可以訪問完整的信號碼型。
• 80SJNB Advanced（選項 JNB02）在 80SJNB Essentials 中增加了多種串行數據鏈路分析功能，包括夾具反嵌、通道仿真、FFE/DFE 均衡和預加重/去加重。

1 可以購買這些應用軟件，安裝在現有的帶有 DSA83UP 升級套件的 DSA8300 示波器上。

SDLA 分析：SDLA Visualizer 和 JNB 信號路徑

SDLA Visualizer 的良好功能現在*了 JNB 的信號路徑功能。通過提供完整的 4 端口反嵌，SDLA Visualizer 擴展了 JNB 信號路徑的反嵌和通道仿真功能，它不僅建立插入損耗效應模型，還建立回波損耗和交叉耦合效應模型。SDLA Visualizer 還*了 JNB中的DFE/FFE 接收機均衡支持，并新增 CTLE 均衡建模功能。

SDLA Visualizer 與 JNB Advanced 中內置的信號路徑功能一起運行。在配置 SDLA Visualizer、選擇所需的測試點、應用模型后，該應用程序會將選定測試點的濾波器自動加載到信號路徑濾波器模塊中。

如果要求 DFE 或 FFE 均衡，這些參數可以迅速輸入 JNB 信號路徑中，然后可以進行zui終測量。

這些只是 SDLA Visualizer 提供的多種功能的部分實例。詳情請參閱 SDLA Visualizer 產品技術資料：www.tektronix。。ｃｏｍ。

分析任意數據的抖動 (80SJARB)

DSA8300 系列使用的 80SJARB 抖動測量應用軟件適用于要求 J2 和 J9 抖動測量的 IEEE 802.3ba 應用。 它還可讓您對 NRZ 數據信號進行基本抖動測量，包括 PRBS31、隨機性業務和加擾數據。 這提供了一種入門級抖動分析功能，支持簡單的 Dual Dirac 模型抖動分析，沒有碼型同步要求。

80SJARB 可在自由運行模式下連續采集數據，其采集和更新速率均超過了 IEEE 規定的 10,000 個數據點的zui低要求。

它為測得數據和推斷數據提供了抖動和眼圖張度浴缸曲線，為采集數據提供了直方圖。

80SJARB 抖動分析測量

80SJNB 抖動分析測量

80SJNB 噪聲分析測量

80SJNB Advanced（選項 JNB02）

80SJNB Advanced（選項 JNB02） 支持：

• FFE（前饋均衡）至 100 個分接點
• FE（判定反饋均衡）支持 40 個分接點
• 支持從夾具反嵌到發射機均衡的線性濾波器。對一階諧波頻率損耗 >30 dB 的通道，支持通道仿真

TDR（時域反射儀）應用

使用 80E10B 亞毫米分辨率和 IConnect® 真正阻抗輪廓，迅速識別問題的精確位置

DSA8300 是業內性能zui高的全集成時域反射計 (TDR) 測量系統。 DSA8300 提供了高達 50 GHz 帶寬的及 15 ps 反射上升時間和 12 ps 入射上升時間的真正的差分 TDR 測量1，可以滿足當前zui苛刻的串行數據網絡分析 (SDNA) 要求。

80E10B 和 80E08B TDR 模塊擁有全面集成的獨立雙通道 2m 遠程采樣器系統，使夾具減到zui小，保證了*的系統保真度。 獨立采樣器偏移校正技術保證快速簡便地反嵌夾具和探頭。 通過使用一個差分模塊的 TDR 階躍驅動一個線對，同時使用第二個差分模塊監測第二個線對，用戶可以檢定輸入串擾。

DSA8300 是業內功能zui齊全的 TDR 測量系統，包含至多 4 個雙通道真正差分 TDR 模塊，從而具有快速準確的多通道阻抗和 S 參數表征。

P80318 真正差分 TDR 探頭和 P8018 單端無源手持式 TDR 探頭為檢定電路板阻抗和電接口信號提供了高性能探測解決方案。 P80318 是一種 18 GHz 100 Ω 輸入阻抗差分 TDR 手持探頭，可以對差分傳輸線進行高保真阻抗測量。 可以調節的探頭間隙支持各種差分線路間距和阻抗。 P8018 是一種 20 GHz 單端無源手持式 TDR 探頭。 P80318 和 P8018 都可以作為獨立式探頭使用，它們都采用專門設計，可以與 80A02 EOS/ESD 模塊結合使用，提供 EOS/ESD 保護功能。

1 上升時間為 10-90%。 80E10B 的典型反射上升時間 <10 ps。

幾千兆位信號路徑檢定和分析 – 串行數據網絡分析 (SDNA)

串行數據網絡分析

隨著數字電路的時鐘速率和上升時間不斷提高，互連信號完整性對數字系統的性能影響非常大。 在時域和頻域中對信號路徑和互連進行準確高效的串行數據網絡分析 (SDNA)，對預測信號損耗、抖動、串擾、端接和振鈴、數字誤碼和眼圖劣化至關重要，以確保系統可靠運行。

泰克提供多個真正差分 TDR 模塊，這些模塊與 IConnect® 軟件相結合，可以以高達 –70 dB 的動態范圍進行 S 參數測量。 這種性能保證了在串行數據分析、數字設計、信號完整性和電接口*性測試應用中進行準確的、可重復的測量。

裝有 IConnect® 軟件的 TDR 模塊性能

通過長記錄長度采集技術，IConnect® 提供了巨大的靈活性，在執行 S 參數測量時獲得了所需的頻率范圍和頻率階躍。 可以采集zui多 1,000,000 點數據。

在結合使用 IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數軟件及 DSA8300 時，您可以獲得高效、易用、經濟的解決方案，基于測量數據評估幾千兆位互連鏈路和器件的性能，包括信號完整性分析、阻抗、S 參數和眼圖測試及故障隔離。

IConnect® 可以幫助您在幾分鐘內、而不是幾天內完成互連分析任務，加快系統設計時間，降低設計成本。 IConnect® 還可以進行許多串行數據標準要求的阻抗、S 參數和眼圖*性測試，及對幾千兆位互連進行全面的通道分析、Touchstone (SnP) 文件輸出建模。

故障分析 – 迅速識別問題位置

80E10B 擁有 12 ps 的典型 TDR 上升時間，提供了杰出的分辨率，可以zui快、地隔離封裝、電路板和芯片故障分析應用中的問題。

IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數軟件

IConnect® S 參數軟件在 DSA8300 TDR 平臺上運行，為數字設計、信號完整性分析和互連*性測試中的 S 參數測量提供了、吞吐量zui高的方式，與類似帶寬的 VNA 相比，可以節約高達 50% 的成本，明顯加快測量速度。

您還可利用 IConnect® S 參數軟件的命令行界面，在使用 TDR 儀器進行的整套制造測試中自動進行 S 參數測量，明顯縮短測試時間，提高測量可靠性。 可以使用參考源(開路、短路、直通)簡便地校準 S 參數，并可以選配 50 Ω 負荷，輕松實現測量、夾具反嵌及移動參考平面。 Touchstone 文件格式輸出可以簡便地共享 S 參數文件，進一步進行數據分析和仿真。

泰克提供了多款真正差分 TDR 模塊，這些模塊與 IConnect® 相結合，提供了帶寬高達 50 GHz 及動態范圍 –70 dB 的 S 參數測量能力。 這一性能超越了串行數據分析、數字設計和信號完整性應用的要求，串擾解析精度達到 1% (–40 dB)，而電接口*性測試模板一般要求在 –10 至 –30 dB 的范圍內進行測量。

IConnect® 軟件可讓您：

• 直接從 TDR/T 或 VNA S 參數測量中，迅速簡便地為 PCB、柔性電路板、連接器、電纜、封裝、插座和 I/O 緩沖輸入生成 SPICE 和 IBIS 模型。
• 顯示數字系統中的眼圖惡化、抖動、損耗、串擾、反射和振鈴。
• 明顯簡化了互連鏈路的信號完整性分析、均衡和加重器件設計以及帶有發射機和接收機的互連鏈路分析。
• IConnect® Linear Simulator 可讓設計人員把多條互連通道連接起來，評估整體時域和頻域性能及整個通道的眼圖。

如需進一步了解 IConnect® 應用軟件，請參閱“IConnect® 信號完整性、TDR 和 S 參數 SW – 80SICMX ? 80SICON ? 80SSPAR”產品技術資料。

光接口測試應用測量和分析工具

DSA8300 為滿足光接口測試應用專門設計的各種測量和分析工具。除標準幅度和定時參數測量外（如上升時間/下降時間、幅度、RMS 抖動、RMS 噪聲、頻率、周期等）外，DSA8300 的測量套件還包括為測量光接口信號訂制的測量（平均光接口功率、消光比、眼圖高度、眼圖寬度、光接口調制幅度 (OMA)、等等）。如需完整的測量清單，請參閱本產品技術資料的測量部分。

DSA8300 包括從 155 Mb/s 至 100 Gb/s 所有常用光接口標準的標準*性測試模板。DSA8300 模板測試系統能夠自動把標準模板和用戶模板擬合到采集進波形數據庫中的數據。模板測試系統還可以基于模板違例總數或模板違例相對于模板測試單位間隔中采集的樣點數的比率，自動確定模板余量。用戶還可以創建定制模板，自動進行模板測試。另外還提供了直方圖和光標測量，分析 DSA8300 采集的光接口信號。

zui后，80SJNB 應用軟件支持全面分析光接口信號的抖動、噪聲和 BER。這一軟件的高級版本（選項 JNB02）支持評估有損傷的信號的加重和均衡。